เชิงนามธรรม:คำแนะนำนี้มาจากไอเซนอธิบายสิ่งที่ทำให้การทดสอบสารกึ่งตัวนำ PCBแตกต่างจากแผงวงจรมาตรฐาน ครอบคลุมถึงการควบคุมอิมพีแดนซ์ การรวมคอนแทคเตอร์ การเลือกใช้วัสดุ การออกแบบอินเทอร์เฟซ DUT และขั้นตอนการตรวจสอบที่ป้องกันผลการทดสอบที่ผิดพลาด
ในการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ PCB ไม่ได้เป็นเพียงตัวพา แต่ยังเป็นส่วนหนึ่งของระบบการวัดด้วย ไอเซนสร้างการทดสอบสารกึ่งตัวนำ PCBส่วนประกอบสำหรับการตรวจสอบอุปกรณ์ การเบิร์นอิน การทดสอบขั้นสุดท้าย และการกำหนดลักษณะเฉพาะ โดยที่ความแปรผันทางไฟฟ้าเพียงเล็กน้อยจะแปลเป็นข้อมูลผลผลิตและความน่าเชื่อถือโดยตรง บอร์ดที่ทำงานได้ดีในผลิตภัณฑ์ต้นแบบสามารถสร้างผลลัพธ์ที่มีเสียงดัง การเบี่ยงเบน หรือไม่สามารถทำซ้ำได้ในซ็อกเก็ตทดสอบ
คุณลักษณะสามประการที่แยกบอร์ดทดสอบออกจากบอร์ดผลิตภัณฑ์: ความต้านทานที่แน่นหนาและการควบคุมการสูญเสียในช่องสัญญาณคู่ขนานจำนวนมาก ความแม่นยำทางกลที่อินเทอร์เฟซอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (DUT) และความเสถียรของขนาดภายใต้วงจรความร้อนซ้ำๆ เมื่อสิ่งใดสิ่งหนึ่งเหล่านี้ถูกบุกรุก วิศวกรจะจบลงด้วยการไล่ตามข้อผิดพลาดในการวัด แทนที่จะเป็นข้อบกพร่องของอุปกรณ์
การทดสอบเซมิคอนดักเตอร์สมัยใหม่เกี่ยวข้องกับช่องสัญญาณดิจิตอล RF และสัญญาณผสมความเร็วสูงที่ต้องกำหนดเส้นทางด้วยพฤติกรรมทางไฟฟ้าที่คาดเดาได้ การออกแบบแผ่นทดสอบจึงต้องมีพิกัดความเผื่อที่สูงกว่าผลิตภัณฑ์เชิงพาณิชย์ส่วนใหญ่
ปัจจัยความสมบูรณ์ของสัญญาณที่สำคัญ:
พารามิเตอร์เหล่านี้ควรถูกกำหนดไว้ในแบบร่างการผลิตและยืนยันด้วยการวัดการสะท้อนกลับของโดเมนเวลา (TDR) หรือเครื่องวิเคราะห์เครือข่ายเวกเตอร์บนคูปองตัวแทน
การเลือกใช้วัสดุมีอิทธิพลต่อประสิทธิภาพทางไฟฟ้า พฤติกรรมทางความร้อน และความทนทานทางกล บอร์ดทดสอบมักจะทนต่อการแทรกหลายพันครั้งและรอบอุณหภูมิซ้ำๆ ดังนั้นวัสดุพิมพ์จึงต้องทนอยู่
การเลือกวัสดุควรเป็นไปตามช่วงความถี่และจำนวนการแทรก ไม่ใช่การตั้งค่าแบบ "พรีเมียม" โดยทั่วไป การระบุมากเกินไปจะทำให้ต้นทุนเพิ่มขึ้นโดยไม่ปรับปรุงผลลัพธ์
อินเทอร์เฟซ DUT คือจุดที่บอร์ดทดสอบมักใช้งานไม่ได้ในทางปฏิบัติ แม้แต่บอร์ดที่มีเส้นทางที่ดีก็ยังทำงานผิดปกติได้หากหน้าสัมผัสของซ็อกเก็ตหรือโพรบไม่ตรงแนวหรือชำรุด
ข้อควรพิจารณาในการออกแบบอินเทอร์เฟซ:
ในกรณีที่ใช้การทดสอบหลายไซต์ ความสมมาตรของช่องสัญญาณจะมีความสำคัญมากยิ่งขึ้น หากไซต์หนึ่งมีความยาวร่องรอยหรือสภาพของแพดที่แตกต่างกัน ผลลัพธ์จะแตกต่างจากส่วนที่เหลือ
ตารางด้านล่างจะเน้นย้ำว่าบอร์ดทดสอบเซมิคอนดักเตอร์แตกต่างจาก PCB ผลิตภัณฑ์ทั่วไปอย่างไร
| คุณลักษณะ | การทดสอบสารกึ่งตัวนำ PCB | PCB สินค้ามาตรฐาน |
|---|---|---|
| ความอดทนต่อความต้านทาน | แน่นหนา มักจะ ±5% หรือดีกว่า ตรวจสอบด้วยคูปอง | โดยทั่วไปแล้วจะหลวมกว่า ±10% ทั่วไป |
| การจับคู่ช่องต่อช่อง | ต้องการความยาวไฟฟ้าเท่ากัน | ไม่ค่อยระบุ. |
| การเลือกใช้วัสดุ | ขับเคลื่อนโดยการสูญเสีย ความเสถียรของเฟส และการจับคู่ความร้อน | ขับเคลื่อนด้วยต้นทุนและประสิทธิภาพโดยรวมเป็นหลัก |
| การตกแต่งพื้นผิวที่หน้าสัมผัส | ทองคำแข็งเพื่อความทนทานต่อการสึกหรอ | ENIG หรือ HASL |
| การเสริมแรงทางกล | สารทำให้แข็งตัว แกนโลหะ การควบคุมระนาบ | มักจะไม่จำเป็น |
| รอบการแทรก | เป็นพันถึงหลักแสน | มักประกอบเพียงชุดเดียว |
| เอกสารประกอบ | คูปองทดสอบ รายงาน TDR/VNA รายงานมิติ | บันทึกการประดิษฐ์มาตรฐาน |
| ปริมาณโดยทั่วไป | ต่ำถึงปานกลางและมีส่วนผสมสูง | ปริมาณมาก ส่วนผสมต่ำ |
เนื่องจากบอร์ดทดสอบมักมีปริมาณน้อยและปรับแต่งได้สูง การมีส่วนร่วมทางวิศวกรรมของซัพพลายเออร์ในระหว่างการตรวจสอบการออกแบบจึงมีความสำคัญพอๆ กับความสามารถในการผลิต
ควรกำหนดการทดสอบการยอมรับก่อนที่จะเริ่มการผลิต ดังนั้นทั้งสองฝ่ายจึงเห็นพ้องกันว่า "ผ่าน" หมายถึงอะไร
การเก็บข้อมูลการวัดพื้นฐานจะช่วยเมื่อเซลล์ทดสอบสร้างผลลัพธ์ที่น่าสงสัยในภายหลัง การเปรียบเทียบการอ่านปัจจุบันกับข้อมูลดั้งเดิมของบอร์ดจะช่วยแยกการเบี่ยงเบนของบอร์ดออกจากความล้มเหลวของอุปกรณ์อย่างรวดเร็ว
คำถามที่ 1: PCB ทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ใช้ทำอะไร
ตอบ: มีการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าและทางกลระหว่างอุปกรณ์ทดสอบและอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ในระหว่างการเรียงลำดับเวเฟอร์ การทดสอบขั้นสุดท้าย การเบิร์นอิน การกำหนดลักษณะเฉพาะ หรือการทดสอบความน่าเชื่อถือ
คำถามที่ 2: เหตุใดการควบคุมอิมพีแดนซ์จึงมีความสำคัญบนบอร์ดทดสอบ
ตอบ: เนื่องจากความแม่นยำในการวัดขึ้นอยู่กับมัน อิมพีแดนซ์และการเอียงที่ไม่สามารถควบคุมได้ทำให้เกิดการบิดเบือนของสัญญาณ ซึ่งอาจทำให้เข้าใจผิดว่าเป็นข้อบกพร่องของอุปกรณ์ ทำให้เกิดข้อผิดพลาดที่ผิดพลาดและข้อมูลที่ไม่น่าเชื่อถือ
คำถามที่ 3: วัสดุใดบ้างที่ใช้สำหรับบอร์ดทดสอบความเร็วสูง
ตอบ: Tg FR-4 สูงสำหรับความเร็วปานกลาง ลามิเนตการสูญเสียปานกลางเพื่อประสิทธิภาพที่สมดุล และวัสดุการสูญเสียต่ำ เช่น PTFE หรือลามิเนตไฮโดรคาร์บอนสำหรับการทดสอบความถี่สูงและ RF
คำถามที่ 4: บอร์ดควรทนต่อการแทรกได้กี่รอบ?
ตอบ: ขึ้นอยู่กับโปรแกรมทดสอบ การทดสอบขั้นสุดท้ายแบบเบิร์นอินและซ้ำหลายครั้งอาจเกี่ยวข้องกับการแทรกหลายพันครั้ง ซึ่งเป็นเหตุผลว่าทำไมการชุบผิวสัมผัสด้วยทองคำแข็งและการออกแบบซ็อกเก็ตแบบถอดเปลี่ยนได้จึงมักถูกกำหนดไว้
คำถามที่ 5: สามารถจัดส่งบอร์ดทดสอบพร้อมรายงานผลการทดสอบได้หรือไม่
ก. ใช่. ระบุข้อกำหนดสำหรับข้อมูลคูปอง TDR หรือ VNA ผลความต่อเนื่องและการแยก การวัดความหนาของการชุบ และรายงานการตรวจสอบขนาดในขั้นตอนการเสนอราคา
Q6: ข้อมูลอะไรบ้างที่จำเป็นสำหรับใบเสนอราคา?
ตอบ: ไฟล์ Gerber, ข้อกำหนดการซ้อนและความต้านทาน, การเลือกวัสดุ, การตกแต่งพื้นผิว, ข้อกำหนดพื้นที่สัมผัส, รายละเอียด DUT และซ็อกเก็ต, ปริมาณ และเกณฑ์การยอมรับใดๆ
คำถามที่ 7: การทดสอบหลายไซต์ส่งผลต่อการออกแบบบอร์ดอย่างไร
ตอบ: แต่ละไซต์งานจะต้องมีความยาวทางไฟฟ้า เค้าโครงที่สมมาตร และคุณภาพของแผ่นที่สอดคล้องกัน เพื่อให้ผลลัพธ์จากไซต์ทั้งหมดสามารถเปรียบเทียบได้และสามารถมีความสัมพันธ์กันได้
PCB ทดสอบเซมิคอนดักเตอร์เป็นเครื่องมือที่มีความแม่นยำซึ่งปลอมตัวเป็นแผงวงจร โดยค่าของมันจะปรากฏในข้อมูลที่ทำซ้ำได้ ไม่ใช่ในแผ่นข้อมูลจำเพาะเพียงอย่างเดียว Aisen Electronics สนับสนุนโครงการ PCB และ PCBA ด้วยทีมวิศวกรที่ตรวจสอบสแต็กอัพ เป้าหมายอิมพีแดนซ์ การรวมคอนแทคเตอร์ และเกณฑ์การยอมรับก่อนเริ่มการผลิต ไม่ว่าคุณจะต้องการบอร์ดระบุคุณลักษณะความเร็วสูงเพียงแผ่นเดียว บอร์ดโหลดทดสอบขั้นสุดท้ายแบบหลายไซต์ หรืออุปกรณ์ติดตั้งแบบเบิร์นอินพร้อมซ็อคเก็ตที่เปลี่ยนได้ เราก็มอบโซลูชันที่ปรับแต่งตามความต้องการ การตอบสนองที่รวดเร็ว และการสนับสนุนด้านการผลิตที่เชื่อถือได้ แบ่งปันไฟล์ Gerber ข้อกำหนดด้านอิมพีแดนซ์ รายละเอียดอินเทอร์เฟซ DUT และปริมาณของคุณ แล้วเราจะส่งคืนการตรวจสอบทางเทคนิคและใบเสนอราคาติดต่อเราวันนี้เพื่อหารือเกี่ยวกับข้อกำหนดของบอร์ดทดสอบของคุณ และให้วิศวกรของเราช่วยคุณหลีกเลี่ยงจุดอ่อนที่ซ่อนอยู่—ติดต่อเราตอนนี้เพื่อให้โครงการของคุณเดินหน้า
